在高低溫環(huán)境測試中，電子樣品的測試性能是電子質(zhì)量檢測的重要指標之一，幾乎所有電子相關(guān)行業(yè)的品質(zhì)實驗室都會設(shè)置一臺或多臺
高低溫箱。但是我們在維護時發(fā)現(xiàn)，實際上許多實驗室的高低溫箱配置并不一定能完全滿足相關(guān)標準的要求。這些都是由于用戶沒有試機的原因而造成的，也有生產(chǎn)人員的溝通不到位所致。當然，也有部分企業(yè)用戶缺乏規(guī)范意識，不愿投入的原因。
所以，我們應(yīng)該選擇哪一種高低溫箱來進行電子高低溫環(huán)境試驗?zāi)兀?/div>
首先應(yīng)該理解：根據(jù)有關(guān)標準，我們需要哪些數(shù)據(jù)？
一般情況下，對電子進行高低溫環(huán)境測試需要采用下列參數(shù)：
1)、波動性：環(huán)境試驗裝置在穩(wěn)態(tài)時，其中心點參數(shù)隨時間變化。
2)、均勻性：環(huán)境測試設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，在一定時間內(nèi)工作，各試點(溫度)的差值。
3)、偏移：儀器在穩(wěn)態(tài)時，對工作空間各測量點的高、低值與標稱值之間的上、下誤差進行測量。
二、高低溫箱選型參考：
常用的高低溫箱標準溫度范圍為：-20℃~+150℃；-40℃~+150℃；-70℃~+150℃可選；-70℃~+150℃(可供用戶要求的超低溫)。
均勻性：小于或等于2℃。
溫控精度：+-0.5℃。
加熱時間：平均每分鐘2.0~3℃左右。
冷卻時間：平均每分鐘0.7~1.2℃左右。
高低溫箱性能參數(shù)：注意：①、試驗產(chǎn)品的體積不能超過試驗箱有效工作空間(20~35)%。對測試時發(fā)熱的產(chǎn)品建議選擇不要超過10%。②、在這一截面上，被試產(chǎn)品迎風(fēng)斷口面積與試箱室面積之比不大于(35~50)%(建議選擇35%)。③、所試樣品的外貌面與檢測箱壁距離至少為100~150mm(建議選用)。
